2026-03-06
Perfiles de rayos láser de infrarrojo cercano (NIR) e infrarrojo de onda corta (SWIR) para medir la dirección de puntería, la divergencia del haz, el ancho del haz y otras características del haz. Se produce un perfil de haz láser para identificar características espaciales que predicen la propagación, la calidad y la utilidad de un rayo láser.