2026-03-06
Profilatura del raggio laser nel vicino infrarosso (NIR) e nell'infrarosso a onde corte (SWIR) per misurare la direzione di puntamento, la divergenza del raggio, la larghezza del raggio e altre caratteristiche del raggio. Viene prodotto un profilo del raggio laser per identificare le caratteristiche spaziali che prevedono la propagazione, la qualità e l'utilità di un raggio laser