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X-2100
SHINHO
Descripción del Producto
CARACTERÍSTICAS
◆ Hay disponibles varias longitudes de onda y rangos dinámicos
◆ Resolución máxima de muestreo: 5 cm
◆ Con VFL, medidor de potencia, fuente láser, mapa de eventos, etc.
◆ Diseño GUI fácil de usar, fácil de operar
◆ Excelente para mediciones de corto alcance, zona muerta: 0,8 m/4 m
◆ Los botones físicos sólidos y sensibles al tacto funcionan juntos para una experiencia de usuario perfecta
◆ Admite múltiples funciones de análisis de los resultados de las pruebas: pérdida de retorno de segmento, pérdida de retorno de punto de evento, comparación de múltiples curvas, capturas de pantalla rápidas
APLICACIONES
◆ Pruebas de red CATV
◆ Pruebas de red de acceso
◆ Pruebas de red LAN/WAN
◆ Pruebas de la red de Metro
◆ Pruebas de laboratorio y de fábrica
◆ Resolución de problemas en tiempo real
ESPECIFICACIONES GENERALES
Mostrar |
TFT-LCD (pantalla táctil) de 5,6 pulgadas 640 × 480 |
Batería |
Batería de litio de 7,4 V/2500 mAh × 2, prueba continua: 8 horas (luz de fondo apagada), tiempo de carga: 3 horas |
Adaptador de corriente |
Fuente de alimentación: entrada: 100~250 V CA, 50-60 Hz, 3 A máx. Salida: 12 V CC; Potencia: 35W |
Almacenamiento de datos |
Tarjeta SD de 16G, 100.000 grupos de datos |
Interfaz |
USB tipo A × 1, Micro-USB × 1 |
Temperatura de trabajo |
-10℃~+50℃ |
Temperatura de almacenamiento |
-20℃~+70℃ |
Humedad |
≤95% (sin condensación) |
Dimensión |
215×155×68 mm / 1,1 kg (con batería) |
Paquete |
X-2100 OTDR; cable de alimentación; adaptador de corriente; Adaptador FC, SC; Batería de litio; Cable USB; Tarjeta SD; guía del usuario; bolsa de transporte; cinturón de muñeca; lápiz de pantalla táctil |
ESPECIFICACIONES TÉCNICAS
Ancho de pulso |
3ns/5ns/10ns/20ns/50ns/100ns/200ns/500ns/1μs/2μs/5μs/10μs/20μs |
Distancia de prueba |
500m/1km/2km/5km/10km/20km/40km/80km/120km/200km/240km |
Resolución de muestreo |
Mínimo 5cm |
Punto de muestreo |
Máximo 256.000 puntos |
Linealidad |
≤0,05dB/dB |
Indicación de escala |
Eje X: 4~70m/div, Eje Y: 0,09~5dB/div |
Umbral de pérdida |
0,01dB |
Resolución de pérdidas |
0,001dB |
Resolución de distancia |
0,01 m |
Precisión de distancia |
± (1m+distancia de medición×3×10-5+resolución de muestreo) (excluyendo la incertidumbre IOR) |
Ajuste refractivo |
1,2000~1,5999, paso de 0,0001 |
OTROS MÓDULOS FUNCIONALES
Módulo |
Parámetro |
Nota |
VFL |
1-20mW |
10 mW por defecto |
OPM |
Opción A: -70dBm~+10dBm; Opción B: -50dBm~+23dBm |
Opción A por defecto |
Fuente láser |
Salida: -5dBm±2dB, Frecuencia: CW/270Hz/1KHz/2KHz |
MODELOS
Módulo |
Longitud de onda (nm) |
Rango dinámico (dB) |
Zona muerta de evento/atenuación (m) |
X-2100-S-A28 |
1310/1550 |
28/26 |
0.8/4 |
X-2100-S-A32 |
1310/1550 |
32/30 |
0.8/4 |
X-2100-S-A35 |
1310/1550 |
35/33 |
0.8/4 |
X-2100-S-A37 |
1310/1550 |
37/35 |
0.8/4 |
X-2100-S-A40 |
1310/1550 |
40/38 |
0.8/4 |
X-2100-S-A42 |
1310/1550 |
42/40 |
0.8/4 |
X-2100-S-B28 |
1625 |
28 |
0.8/4 |
X-2100-S-B32 |
1625 |
32 |
0.8/4 |
X-2100-S-B35 |
1625 |
35 |
0.8/4 |
X-2100-S-B38 |
1625 |
38 |
0.8/4 |
X-2100-S-C26 |
1650 |
26 |
0.8/4 |
X-2100-S-C32 |
1650 |
32 |
0.8/4 |
X-2100-S-C35 |
1650 |
35 |
0.8/4 |
X-2100-S-C38 |
1650 |
38 |
0.8/4 |
X-2100-S-AB32 |
1310/1550/1625 |
32/30/30 |
0.8/4 |
X-2100-S-AB35 |
1310/1550/1625 |
35/33/32 |
0.8/4 |
X-2100-S-AB37 |
1310/1550/1625 |
37/35/34 |
0.8/4 |
X-2100-S-AB40 |
1310/1550/1625 |
40/38/37 |
0.8/4 |
X-2100-S-AB42 |
1310/1550/1625 |
42/40/38 |
0.8/4 |
X-2100-S-AC32 |
1310/1550/1650 |
32/30/30 |
0.8/4 |
X-2100-S-AC35 |
1310/1550/1650 |
35/33/32 |
0.8/4 |
X-2100-S-AC37 |
1310/1550/1650 |
37/35/35 |
0.8/4 |
X-2100-S-AC40 |
1310/1550/1650 |
40/38/37 |
0.8/4 |
X-2100-S-AC42 |
1310/1550/1650 |
42/40/38 |
0.8/4 |
X-2100-M26 |
850/1300 |
22/26 |
1.2/5 |
X-2100-SM32 |
850/1300/1310/1550 |
22/26/32/30 |
SM: 0,8/4 MM: 1,2/5 |
X-2100-SM35 |
850/1300/1310/1550 |
22/26/35/33 |
SM: 0,8/4 MM: 1,2/5 |
X-2100-SM40 |
850/1300/1310/1550 |
22/26/40/38 |
SM: 0,8/4 MM: 1,2/5 |
X-2100-S-AP35 |
1310/1490/1550 |
35/33/33 |
0.8/4 |
